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4001027270
IGBT高壓大電流測(cè)試探針臺(tái),適用于高壓大電流環(huán)境下的產(chǎn)品測(cè)試
IGBT測(cè)試探針臺(tái)
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特點(diǎn) |
類型 |
規(guī)格 |
適用產(chǎn)品對(duì)象:IGBT、FRD、高壓大電流測(cè)試、太陽(yáng)能電池測(cè)試、二極管晶體管測(cè)試、背電極測(cè)試;
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探針臺(tái)體 |
8"chuck;鍍金;加裝背電極,做雙面測(cè)試; |
龍門架結(jié)構(gòu);X-Y行程:8"-8",精度:1um;Z軸行程4mm; |
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尺寸:660mm(W) X700mm (H)X 660mm (D); |
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重量:60KG; |
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測(cè)試系統(tǒng) |
探針座:精度2um,X-Y-Z行程12MM,帶磁力開(kāi)關(guān); |
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SHV高壓夾具:漏電精度低于1pA;大電流10A,高壓2kv(不能同時(shí)達(dá)到);2.1m線纜接頭與儀器配備; |
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SHV高壓大電流探針:電流范圍0-50A;電壓范圍0-2kV; |
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顯微鏡:三目體式顯微鏡、倍率:16-200X; |
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附件: 屏蔽箱、阻尼抗震支架、面包板、真空泵 |
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