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    包郵 關注:649

    bruker 原子力顯微鏡

    應用于半導體行業(yè):

    半導體測試設備-顯微鏡分類-其他

    庫       存:

    1

    產       地:

    美國

    數       量:

    減少 增加

    價       格:

    面議
    交易保障 擔保交易 網銀支付

    品牌:

    型號:

    所屬系列:半導體測試設備-顯微鏡分類-其他

     Bruker公司的AFM具有多項專利技術,以其卓越的性能廣泛應用于科研和工業(yè)界各領域

    Dimension  FastScanTM 原子力顯微鏡(Atomic  Force Microscope,AFM),在不損失Dimension®  Icon®超高的分辨率和卓越的儀器性能前提下,最大限度的提高了成像速度。這項突破性的技術創(chuàng)新,從根本上解決了AFM成像速度慢的難題,大大縮短了各技術水平的AFM用戶獲得高質量數據的時間,是世界上掃描速度最快的原子力顯微鏡。

     

    應用:

    應用于科研和工業(yè)界各領域,涵蓋了聚合物材料表征,集成光路測量,材料力學性能表征,MEMS制造,金屬/合金/金屬蒸鍍的性質研究,液晶材料性能表征,分子器件,生物傳感器,分子自組裝結構,光盤存儲,薄膜性能表征等領域的監(jiān)測等各類科研和生產工作。

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    提問:
     

    是自動的還是半自動的,能不能固定成像再導出?

    caoweihuo  2017-07-11

     測試過程是自動的,可以固定成像然后再導出,如要了解更進一步的消息,歡迎您來電:18811190340

    2017-08-07

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