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    包郵 關(guān)注:445

    DX測(cè)量顯微鏡系列

    應(yīng)用于半導(dǎo)體行業(yè):

    半導(dǎo)體測(cè)試設(shè)備-顯微鏡分類-工具顯微鏡

    產(chǎn)品品牌

    甬寧

    庫(kù)       存:

    5

    產(chǎn)       地:

    中國(guó)-上海市

    數(shù)       量:

    減少 增加

    價(jià)       格:

    面議
    交易保障 擔(dān)保交易 網(wǎng)銀支付

    品牌:甬寧

    型號(hào):

    所屬系列:半導(dǎo)體測(cè)試設(shè)備-顯微鏡分類-工具顯微鏡

     介紹

    DX測(cè)量顯微鏡系列是觀察、測(cè)量和處理系統(tǒng)化的顯微鏡陣容。

    特點(diǎn)

    ● 視場(chǎng)寬闊,可得清晰無(wú)閃爍正像

    ● 高精度測(cè)量,同時(shí)具有大測(cè)量范圍和高精度,適用于各種測(cè)量

    ● 可選用高NA物鏡,滿足長(zhǎng)工作距離的測(cè)量要求

    ● 照明裝置(反射/透射)可選用高亮度LED的照明或鹵素照明

    ● 利用可變孔徑光闌進(jìn)行無(wú)衍射觀察測(cè)量

    ● 各類尺寸的標(biāo)準(zhǔn)工作臺(tái)

    ● 快速釋放裝置便于測(cè)量工件大或測(cè)量工件數(shù)量多的快速移動(dòng)工作臺(tái)

    ● 高位目鏡觀察

    ● 便捷CCD圖像成像,可選配多種CCD數(shù)碼相機(jī)

    觀察成像

    偏光觀察

    觀察過(guò)濾后只有一個(gè)方向振動(dòng)的光。適于觀察具有特殊光學(xué)特性的材料,如礦石和液晶。

    微分干涉對(duì)比觀察

    在檢測(cè)金屬、液晶和半導(dǎo)體表面的微小劃痕和階差時(shí)很有效。

    暗視場(chǎng)觀察

    擋住直射到物體上的光,只觀察散射光,通過(guò)高對(duì)比度能觀察到在亮視場(chǎng)看不到的劃痕和粉末。

    亮視場(chǎng)觀察

    最普通的觀察方式,直接觀察從工件表面反射的光。
     

    新功能增強(qiáng)Z軸測(cè)量精度

    ● 輔助對(duì)焦(FA)

    新近研發(fā)的分光棱鏡輔助對(duì)焦(FA)提供更銳利的圖案,可在Z軸測(cè)量期間提供精確對(duì)焦。由于不同物鏡焦深差異導(dǎo)致的測(cè)量誤差被降到最低。

    對(duì)焦 前端對(duì)焦 后端對(duì)焦

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    4001027270

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