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    帶結(jié)溫測試高溫反偏試驗設(shè)備(HTRB)

    產(chǎn)品品牌

    杭州高坤電子

    發(fā)貨期限:

    6~8周天

    庫       存:

    1

    產(chǎn)       地:

    中國-浙江省

    數(shù)       量:

    減少 增加

    價       格:

    面議
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    品牌:杭州高坤電子

    型號:

    所屬系列:半導體測試設(shè)備-壽命測試設(shè)備-老化電源系統(tǒng)

    試驗線路及試驗方法滿足JESD22-A108、MIL-STD-750 Method 1038及AEC Q101相關(guān)標準要求;
    帶結(jié)溫測試功能,可實時顯示DUT的結(jié)溫,通過簡單的設(shè)定,可使器件在Tjmax條件下進行試驗;
    適用于各種封裝的二極管、三極管、場效應管、可控硅、IGBT等器件進行高溫反偏試驗(HTRB)和高溫柵偏試驗(HTGB);
    設(shè)備類型:分單溫區(qū)8通道試驗設(shè)備、單溫區(qū)16通道試驗設(shè)備、雙溫區(qū)16通道試驗設(shè)備、四溫區(qū)試驗設(shè)備四種
    標配4臺試驗電源,300V、600V、1200V、2000V DC多種電源規(guī)格可選;試驗電源過壓、欠壓、過流、短路和過熱等保護功能,確保試驗電源的可靠性;具有      漏電流上限、試驗電壓上限、溫度上限的設(shè)定,老化時間的設(shè)定;實時監(jiān)測并顯示每通道的老化時間、老化進度、失效工位數(shù)等;實時顯示并記錄保存老化參數(shù)(每工位IR、VR、Temp);實時判斷是否超限,超限報警并記錄超限工位及超限時間;實時顯示每工位的最大IR值,并顯示最大IR值產(chǎn)生時間;老化參數(shù)方便調(diào)用、可生成試驗報表、可繪制漏電流變化曲線測量DUT的結(jié)溫Tj值;      

    計算機實時檢測并記錄電源的輸出電壓、電流,便于試驗監(jiān)控;工業(yè)級電腦主機、液晶顯示器、專用鍵盤及鼠標,WINDOWS操作界面,友好的人機對話窗口, 強大的圖形編輯能力以及強大的器件庫供用戶選擇,軟件操作簡單易學,更有系統(tǒng)查詢診斷功能, 試驗狀況一目了然,方便用戶隨時查驗;
    多達幾百種按軍標要求設(shè)計的老化試驗板供用戶選擇,各種基板和老化座均耐高溫、抗氧化、耐疲勞;
    供電電源:單相AC220V±10%,47Hz~63Hz,6KW;外形尺寸:W1360mmхH1820mmхD1320mm;重量:約500kg 。

     


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