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型號:FM/060-LP激光平面干涉儀
原理:斐索干涉儀是一種原理為等厚干涉,用以檢測光學(xué)元件的面形、光學(xué)鏡頭的波面像差以及光學(xué)材料均勻性等的精密儀器。其測量精度一般為1/10~1/100,為檢測用光源的平均波長。
功能:平面光學(xué)元件表面面型測量
測量方式:斐索干涉原理
通光口徑:60mm
測試波長:635nm(半導(dǎo)體激光器)
對準(zhǔn)方式:簡單兩點(diǎn)對準(zhǔn)
對準(zhǔn)視場:±0.5度
平面標(biāo)準(zhǔn)鏡精度:PV:λ/20
產(chǎn)品特點(diǎn):
1. 結(jié)構(gòu)緊湊,小型化;
2. 防塵效果好;
3. 具有不損傷被測物品、測試精度高、測量時(shí)間短;
4. 激光干涉儀的光源——激光,具有高強(qiáng)度、高度方向性、空間同調(diào)性、窄帶寬和高度單色性等優(yōu)點(diǎn);
5. 激光干涉儀可配合各種折射鏡、反射鏡等來使用;
6. 激光干涉儀測量范圍大、分辨率高等。
應(yīng)用范圍:科學(xué)研究、精密器件加工及光學(xué)零件測試等領(lǐng)域的廣泛應(yīng)用。
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