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    大行程VIEW Benchmark?624

    應用于半導體行業(yè)：

    半導體測試設備-光學類測試-其他

    產品品牌

    VIEW

    庫       存：

    10

    產       地：

    美國

    數(shù)       量：

    減少 增加

    價       格：

    面議
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    品牌：VIEW

    型號：

    所屬系列：半導體測試設備-光學類測試-其他


    大行程、三軸測量系統(tǒng)VIEW Benchmark™™624大行程三軸測量系統(tǒng)
    VIEW Benchmark™™624是大容量、全自動、三維尺寸測量系統(tǒng)。VIEW Benchmark™624的移動橋設計創(chuàng)造了一個開放的工作面，方便進入測量區(qū)域，并允許被測量零件在任何時候保持靜止。
    其龐大的花崗巖基座和高精度的固定倍率光學系統(tǒng)，Benchmark™624提供了您期待的世界一流測量系統(tǒng)的準確性和可靠性。
    參數(shù)
    標準配置
    選配項
    X,Y,Z 行程
    624x624x150 mm
    624x624x200 mm
    承載力
    50 kg 平均分布在玻璃上;100 kg 均勻分布在平臺上
    影像及光學系統(tǒng)
    雙放大, 固定倍率光學鏡頭,可更換前置鏡頭VIEW 2.5X b低倍率1:1前置鏡頭; 高倍率為4:1前置鏡頭
    單一放大倍率, 出廠固定倍率鏡頭，可更換前置鏡頭VIEW 1X 精筒和 2.5X 前置鏡頭
    相機
    1.4 兆像素1/2 inch數(shù)碼單色相機
    1.4 兆像素2/3 inch數(shù)碼單色相機
    2.0 兆像素 1/2 inch數(shù)碼單色相機
    照明
    全 LED 同軸表面光和平臺下背景光
    多彩程控環(huán)形光。
    柵格自動聚焦系統(tǒng)
    可選傳感器
    		  
    同軸激光、白光傳感器、離軸三角法激光
    測量模式
    高速移動測量(MAM)
    連續(xù)影像捕捉 (CIC)

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