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太赫茲近場光學顯微鏡 THz-NeaSNOM
---30nm光學信號空間分辨率
太赫茲波段的納米分辨散射式近場光學顯微-譜儀系統(tǒng)：
neaspec公司推出的第三代散射式近場光學顯微鏡neaSNOM，采用專利的高階解調背景壓縮技術，有效 提取散
射近場信號，在獲得10nm空間分辨率的同時保持極高的信噪比，是目前世界上唯一成熟的s-SNOM產 品。同時其
贗外差干涉式探測技術，能夠獲得對近場信號強度和相位的同步成像。
由于專利的全反射式光學聚焦和獨一無二的雙光路設計，neaSNOM是目前世界上唯一一款可以應用于太 赫茲波段的近場光學顯微成像和譜儀系統(tǒng)。全新推出的THz-neaSNOM必將成為廣大太赫茲科研工作者手中的 神兵利器。
對有機和無機材料同樣適用
 封閉式外罩設計，減少氣流干擾。
 預先校準的近場光路，近一步提高穩(wěn)定性
 快速成像，并以10nm空間分辨率鑒別納米材料
 同步探測近場光學信號強度、相位并成像
 可對單層石墨烯，蛋白質有效測量的高敏感度
簡單明了的光路說明和光源選擇指示，培訓、操作簡便
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產品簡介：
太赫茲（THz）光源波長較大，一般在300微米左右。由于衍射極限的存在，THz遠場測量系統(tǒng)的光學空間分辨率一般被限制在150微米左右。該THz光遠場測量結果的準確度經常無法滿足對材料科學研究，尤其是需要納米分辨率的微細尺度材料分布研究（例如半導體芯片中各個組成：源極，漏極，柵極）的實驗。THz-NeaSNOM近場光學顯微鏡的出現為此難題提供了一個很好的解決方案。
德國Neaspec公司與Fraunhofer IPM在Neaspec公司NeaSNOM近場光學顯微鏡的基礎上，已經成功研發(fā)了一套易用使用且THz系統(tǒng)的空間分辨率達到30nm的實驗設備。
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THz-NeaSNOM主要技術參數與特點：
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+優(yōu)于30nm的空間分辨率
+常用THz光范圍：0.1-3THz
+專利設計的寬波段拋面鏡
+THz研究可使用商業(yè)化的AFM探針
+THz-TDS使用飛秒激光光源
+簡單易用，穩(wěn)定性高
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