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    包郵 關(guān)注:653

    HITACHI POWER SOLUTIONS 超音波檢查 SAT(Scanning Acoustic Tomograph)

    庫       存：

    1000

    產(chǎn)       地：

    中國(guó)-江蘇省

    數(shù)       量：

    減少 增加

    價(jià)       格：

    面議
    交易保障 擔(dān)保交易 網(wǎng)銀支付

    應(yīng)用范圍：

    檢查IC封裝及電子部品內(nèi)部的剝離，裂痕，空隙等缺陷。

    特性：

    高品質(zhì)(Fine)：
    最新開發(fā)500MHz超音波探傷儀，大富提高影像品質(zhì)，高精密度掃瞄，可產(chǎn)生0.5um 解析度圖形17500 x 7500。

    快速(Fast)：
    掃瞄機(jī)速度高達(dá)1000mm/sec，較傳統(tǒng)增加67%, 搭配加大掃瞄區(qū)域，增加其單位處理量。

    彈性(Flexible)：
    配合各種需求可搭配各式探頭(Probe)，提供更強(qiáng)的客制功能與使用的方便性。

     

    產(chǎn)品功能：

    立體傾斜式掃瞄(S-Image，日立專利)：
    幫助更容易取得焦點(diǎn)位置。

    多重影像、參數(shù)儲(chǔ)存(Image Index，日立專利)：
    所有參數(shù)可以與影像同時(shí)儲(chǔ)存，對(duì)于類似待測(cè)物(Sample)可迅速取得影像。

    自動(dòng)多層掃瞄(Multi-gate Image)：
    在既定的高度，可取得多達(dá)64層影像。
    完整的探頭(Probe)組合。


     

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