泰克TEK Keithley 4200A-SCS 半導體參數(shù)分析儀

使用 4200A-SCS 加快半導體設(shè)備、材料和工藝開發(fā)的探索、可靠性和故障分析研究。業(yè)內(nèi)領(lǐng)先性能參數(shù)分析儀，提供同步電流-電壓 (I-V)、電容-電壓 (C-V) 和超快脈沖 I-V 測量。

直流電流-電壓
(I-V) 范圍

10 aA - 1A
0.2 µV - 210 V

電容-電壓
(C-V) 范圍

1 kHz - 10 MHz
± 30V 直流偏置

脈沖 I-V
范圍

±40 V (80 V p-p)，±800 mA
200 MSa/s，5 ns 采樣率

參數(shù)查看，快速清晰。

大膽發(fā)現(xiàn)從未如此容易。 4200A-SCS 參數(shù)分析儀可將檢定和測試設(shè)置的復雜程度降低高達 50%，提供清晰且不折不扣的測量和分析功能。另外，嵌入式測量專業(yè)知識（業(yè)界首創(chuàng)）可提供測試指南并讓您對結(jié)果充滿信心。

特點

· 內(nèi)置測量視頻采用英語、中文、日語和韓語

· 使用數(shù)百個用戶可修改應用測試開始您的測試

· 自動實時參數(shù)提取、數(shù)據(jù)繪圖、算數(shù)函數(shù)

測量、切換、重復。

4200A-CVIV 多通道切換模塊自動在 I-V 和 C-V 測量之間切換，無需重新布線或抬起探頭端部。與競爭產(chǎn)品不同，四通道 4200A-CVIV 顯示器提供本地可視查看，可快速完成測試設(shè)置，并在出現(xiàn)意想不到的結(jié)果時輕松排除故障。

特點

· 無需重新布線即可將 C-V 測量移動到任何設(shè)備終端

· 用戶可配置低電流功能

· 個性化輸出通道名稱

· 查看實時測試狀態(tài)

檢定、自定義、最大化。

簡單地說，4200A-SCS 可以完全自定義且全面升級，您可以對半導體設(shè)備、新材料、有源/無源組件、晶片級可靠性、故障分析、電化學或幾乎任何類型的樣本執(zhí)行電氣檢定和評估。

特點

· NBTI/PBTI 測試

· 隨機電報噪聲

· 非易失內(nèi)存設(shè)備

· 穩(wěn)壓器應用測試

帶分析探測器和低溫控制器的集成解決方案。

4200A-SCS 參數(shù)分析儀支持許多手動和半自動晶片探測器和低溫控制器，包括 Cascade MicroTech、Lucas Labs/Signatone、MicroManipulator、Wentworth Laboratories、LakeShore Model 336 低溫控制器。

特點

· “點擊”測試定序

· “手動”探測器模式測試探測器功能

· 假探測器模式無需移除命令即可實現(xiàn)調(diào)試

降低成本并保護您的投資

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泰克TEK Keithley 4200A-SCS 半導體參數(shù)分析儀

應用于半導體行業(yè)：

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