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    晶體掃描儀—顯微掃描

    應用于半導體行業(yè)：

    半導體測試設備-顯微鏡分類-掃描顯微鏡

    產(chǎn)品品牌

    晶體掃描儀—顯微掃描

    庫       存：

    100

    產(chǎn)       地：

    中國-江蘇省

    數(shù)       量：

    減少 增加

    價       格：

    面議
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    品牌：晶體掃描儀—顯微掃描

    型號：

    所屬系列：半導體測試設備-顯微鏡分類-掃描顯微鏡

    【晶體掃描儀—顯微掃描】
     
    設備特點：
    1. 采用高速相機配合高亮冷光源及光纖，保障圖像的清晰度；
    2. 夾具設計采用4x4矩陣掃描方案，提升檢測效率；
    3. 像素分辨率: 2.8um/1.4um/0.7um可選；
    4. 采用3PC分析處理方案，保障檢測效率及數(shù)據(jù)穩(wěn)定性；
    5. 可按照芯片尺寸設定最小分析單元。
     
    系統(tǒng)配置：
    用途
    1、LED外延片/芯片/PSS圖形缺陷檢測
    2、支持排線及電子印刷等圖形缺陷檢測
    型號
    XTL-2K
    載物臺
    全自動掃描載物臺
    行程：158mm x 158mm/210mm x 210mm可選
    支持夾具定制
    反饋系統(tǒng)
    線性反饋尺， 解析率：0.1um/1.0um可選
    聚焦
    電動聚焦系統(tǒng)
    探測系統(tǒng)
    特殊深景深顯微組合設計； 高品質(zhì)彩色成像系統(tǒng)；
    綜合放大倍率8.0x～100x； 超長工作距離>50mm
    照明方式
    專用組合環(huán)形光源及同軸光可切換照明
    軟件系統(tǒng)
    高性能缺陷檢測算法軟件系統(tǒng)，內(nèi)嵌美軍標判據(jù)基準軟件；
    提供各類數(shù)據(jù)庫接口，可將測量結(jié)果上傳至工藝主控終端
    檢查性能
    高品質(zhì)自動抓圖及拼圖功能； 結(jié)合自動標注存檔功能
    隔震系統(tǒng)
    隔振平臺，有效隔離高頻振動
    標配外觀尺寸
    長：1200mm   寬：800mm   高：1500mm
     
     

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