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代工封裝后產(chǎn)品全面的電性能測(cè)試

發(fā)表于:2017-12-21  作者:30755839  關(guān)注度:581

實(shí)驗(yàn)室配備先進(jìn)的測(cè)試儀器,可提供功率器件4吋、6吋、8吋晶圓和封裝后產(chǎn)品全面的電性能測(cè)試,包括靜態(tài)測(cè)試、動(dòng)態(tài)測(cè)試、熱阻測(cè)試等項(xiàng)目,為產(chǎn)品研發(fā)、生產(chǎn)確認(rèn)和產(chǎn)品終測(cè)提供可靠的測(cè)試數(shù)據(jù)。

 
編號(hào) 設(shè)備名稱 功能 試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)
XT-001 雪崩能量測(cè)試系統(tǒng) 雪崩能力測(cè)試 AEC-Q101-004, MIL-STD-750 Method 3470
XT-002 半導(dǎo)體測(cè)試系統(tǒng) 直流參數(shù)測(cè)試 MIL-STD-750F 2012 Method 3400 Series
XT-003 自動(dòng)探針測(cè)試臺(tái) 芯片參數(shù)測(cè)試 Datasheet/Customer Requests
XT-004 高精度功率MOSFET 柵電組測(cè)試儀 柵電組測(cè)試 JEDEC Standard JESD24-11
XT-005 功率器件動(dòng)態(tài)參數(shù)測(cè)試系統(tǒng) 動(dòng)態(tài)參數(shù)測(cè)試 MIL-STD-750 Series
XT-006 穩(wěn)態(tài)熱阻測(cè)試儀 分立功率器件參數(shù)測(cè)試 MIL-STD-750 Series
XT-007 小型溫度試驗(yàn)箱 溫度環(huán)境變化的參數(shù)測(cè)試 User Specification Customer Requests
XT-008 半導(dǎo)體器件分析儀&曲線追蹤儀 功率分立器件電性能測(cè)試 MIL-STD-750F 2012 Series
XT-009 LED測(cè)試系統(tǒng) LED的瞬態(tài)以及穩(wěn)態(tài)光學(xué)特性測(cè)量 LES NA LM-79 GB/T 24824

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