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4001027270
可對失效或有缺陷的元器件或電源產(chǎn)品通過使用測試分析技術(shù)和分析程序確認其失效現(xiàn)象，分辨失效模式或機理，確定其最終的失效原因，提出改進與預(yù)防措施，對改進產(chǎn)品設(shè)計，提高工藝技術(shù)，減少失效，及仲裁失效事故起著極為重要的作用。
| 編號 | 設(shè)備名稱 | 功能 | 試驗標準 |
|---|---|---|---|
| XF-001 | X射線檢測設(shè)備 | 樣品內(nèi)部探測 | MIL-STD-750 Method 2076 |
| XF-002 | 超聲波掃描顯微鏡 | 樣品斷面掃描（樣品內(nèi)部探測） | MIL-STD-883 Method 2030 |
| XF-003 | 金相顯微鏡 | 目檢 | MIL-STD-883/MIL-STD-750/JEDEC |
| XF-004 | 體視顯微鏡 | 連續(xù)變倍,高清晰度大視場 | - |
| XF-005 | 精密切割機 | 切割 | - |
| XF-006 | 研磨/拋光機 | 半自動的磨拋機 | - |
| XF-007 | 多功能推拉力測試機 | 拉力測試、焊點剪切力測試和晶粒剪切力測試 | MIL-STD-883E JESD22-B116B |
| XF-008 | 能量色散型X射線熒光光譜儀 | 檢測RoHS/WEEE、ELV指令中指定有害物質(zhì) | RoHS指令，WEEE指令，ELV指令 |
| 可靠性實驗室 | 應(yīng)用系統(tǒng)實驗室 | 元器件實驗室 | 失效性分析實驗室 |
商家資料
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