失效分析是一門(mén)發(fā)展中的新興學(xué)科，近年開(kāi)始從軍工向普通企業(yè)普及。2018年失效分析技術(shù)分享活動(dòng)，儀準(zhǔn)科技自2012年在北京建立以來(lái)，一直受到半導(dǎo)體行業(yè)內(nèi)同行們的支持與鼓勵(lì)，這6年來(lái)，有贊美，有夸獎(jiǎng)，有磕絆，也有不足；感謝大家一直以來(lái)的包容與支持，同行們之間的反饋與意見(jiàn)是我們進(jìn)步的較大推動(dòng)力。失效分析與預(yù)防 失效分析的意義。
我們也一直在半導(dǎo)體行業(yè)中努力吸收新鮮知識(shí)，緊跟行業(yè)潮流，完善公司設(shè)備及技術(shù)要求，盡我們的較大努力，去達(dá)到實(shí)驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)。
端午佳節(jié)到來(lái)之際，儀準(zhǔn)科技特此推出2018年年中的優(yōu)惠活動(dòng)，以此來(lái)回饋新老顧客對(duì)我們的支持。
它一般根據(jù)失效模式和現(xiàn)象，通過(guò)分析和驗(yàn)證，模擬重現(xiàn)失效的現(xiàn)象，找出失效的原因，挖掘出失效的機(jī)理的活動(dòng)。在提高產(chǎn)品質(zhì)量，技術(shù)開(kāi)發(fā)、改進(jìn)，產(chǎn)品修復(fù)及仲裁失效事故等方面具有很強(qiáng)的實(shí)際意義。其方法分為有損分析，無(wú)損分析，物理分析，化學(xué)分析等。
集成電路失效分析流程中，I/V CURVE的量測(cè)往往是非破壞分析的第二步(外觀檢查排在第一步)，可見(jiàn)curve量測(cè)的重要性。隨著器件的pin腳數(shù)越來(lái)越多，傳統(tǒng)的curve tracer(多為手動(dòng))沒(méi)有辦法滿(mǎn)足時(shí)效的需求。Advanced推出的smart-1 auto curve tracer很好的滿(mǎn)足了客戶(hù)的需求，尤其是在BGA等通訊產(chǎn)品方面，具備安捷倫B1500和keithely4200無(wú)可比擬的便利性。國(guó)內(nèi)知名客戶(hù)有：上海宜碩、深圳宜智發(fā)、華為、珠海炬力、蘇州瑞薩、蘇州三星、東莞三星、SMIC、天水華天、無(wú)錫安盛、深圳沛頓、華測(cè)檢測(cè)等等
失效分析與預(yù)防 失效分析的意義
IV自動(dòng)曲線(xiàn)量測(cè)儀主要參數(shù)：
1. 高分辨率之I/V量測(cè)范圍,Voltage Measure Range可達(dá) 200mV ~ 200V（需搭配keithly 2400）， Current Measure Range可達(dá)1uA ~ 1A，且測(cè)試Channel可從 64 pin逐步擴(kuò)充至Max.4096 pin，以滿(mǎn)足客戶(hù)多元化之產(chǎn)品測(cè)試需求。
2. 機(jī)臺(tái)主要測(cè)試功能，包括:Open/Short Test、I/V Curve Analysis、Idd Measuring、Powered Leakage (漏電) Test