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WLP系列 晶圓級(jí)封裝 華天科技(昆山)電子有限公司

發(fā)表于:2017-08-31  作者:3136162  關(guān)注度:1084

WLP系列  晶圓級(jí)封裝 華天科技(昆山)電子有限公司

晶圓級(jí)封裝(WLP,Wafer Level Package) 的一般定義為直接在晶圓上進(jìn)行大多數(shù)或是全部的封裝與測(cè)試測(cè)試,之后再進(jìn)行切割(singulation)制成單顆組件。而RDL、 bumping、copper pillar、TSV等技術(shù)是WLP的關(guān)鍵技術(shù)。
華天(昆山)公司在WLP封裝方面具有豐富的經(jīng)驗(yàn),特別是具有先進(jìn)成熟的TSV技術(shù),在世界范圍內(nèi)首先實(shí)現(xiàn)TSV產(chǎn)品量產(chǎn)的企業(yè)??梢詾榭蛻籼峁┰O(shè)計(jì)、代工、測(cè)試一體的Turnkey 服務(wù)。

我們的WLP技術(shù)具有以下優(yōu)勢(shì):
1.
低成本;
2.高良率;
3.高可靠性;
4.高性能;
5.芯片面積利用率高。
WLP系列

設(shè)計(jì)服務(wù)產(chǎn)品

華天科技昆山分公司在先進(jìn)封裝設(shè)計(jì)方面有經(jīng)驗(yàn)豐富的工程師團(tuán)隊(duì),以保證客戶多樣化的產(chǎn)品封裝設(shè)計(jì)需要,可以為客戶產(chǎn)品的封裝提供快速、優(yōu)質(zhì)的導(dǎo)入服務(wù)。
設(shè)計(jì)服務(wù):結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì),工藝設(shè)計(jì),電路設(shè)計(jì),測(cè)試工具設(shè)計(jì)。
 

結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)

工藝設(shè)計(jì) 

電路設(shè)計(jì) 測(cè)試工具設(shè)計(jì)

仿真服務(wù):電學(xué)仿真,熱學(xué)仿真,熱機(jī)械可靠性仿真。
  
 

封裝設(shè)計(jì)流程

組裝服務(wù)產(chǎn)品

公司擁有一套先進(jìn)的8英寸晶圓WLCSP量產(chǎn)技術(shù)線,制程能力強(qiáng),配備了進(jìn)口的半導(dǎo)體制造設(shè)備和半導(dǎo)體封裝設(shè)備。半導(dǎo)體制造設(shè)備有有真空薄膜沉積設(shè)備、等離子體刻蝕機(jī)、光刻設(shè)備、清洗設(shè)備、電化鍍?cè)O(shè)備、激光打孔,激光切割機(jī),封裝設(shè)備中有對(duì)位和鍵合設(shè)備、減薄設(shè)備、機(jī)械切割設(shè)備、印刷和回流焊設(shè)備、激光打標(biāo)設(shè)備,檢放芯片設(shè)備,及可靠性測(cè)試中樣品實(shí)驗(yàn)和SEM分析設(shè)備等。

測(cè)試服務(wù)產(chǎn)品

我們的測(cè)試服務(wù)可支持晶圓級(jí),芯片級(jí)和模塊級(jí)測(cè)試,包括如下所列的封裝信號(hào)完整性分析,故障分析,合格性測(cè)試,晶圓檢測(cè)。此外,我們可以提供定制測(cè)試服務(wù),如定制的測(cè)試車和定制的探針測(cè)試等。

  • ?晶圓探針測(cè)試
  • ?最終測(cè)試(包括電氣,功能,性能級(jí)別)
  • ?模塊測(cè)試
  •  HAST 高加速應(yīng)力測(cè)試
  •  溫度存儲(chǔ)測(cè)試
  •  熱沖擊測(cè)試
  • ?TMCL溫度循環(huán)測(cè)試
  •  研磨和橫截面分析
  • ?SEM掃描式電子顯微鏡
  • ?自動(dòng)視圖檢查
  • ?X射線檢查分析
     

 

交鑰匙服務(wù)產(chǎn)品

作為封裝代工企業(yè),華天科技昆山分公司本著客戶至上的原則,會(huì)盡力為客戶提供從方案到產(chǎn)品量產(chǎn)的一站式封裝服務(wù)。我們可以快速的響應(yīng)客戶的需求,提供可定制的產(chǎn)品開發(fā),完善的解決方案,以及專業(yè)化的技術(shù)支持。

商家資料

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