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XPS/AES檢測

發(fā)表于：2017-02-15  作者：863test  關(guān)注度：663

X射線光電子能譜儀(XPS)+餓歇電子能譜儀(AES)

 

 

XPS利用光電效應(yīng)的原理，測量X射線激發(fā)出的光電子能量和計數(shù)，對樣品表面幾個納米深度的范圍內(nèi)進行半定量的成分和化學(xué)態(tài)分析；AES利用電子激發(fā)出的俄歇電子，對表面進行微區(qū)的成分和化學(xué)態(tài)分析。
 

測試范圍：

除H和He之外的所有元素

分析深度約5nm(AES約3nm)

檢測下限約0.1%

空間分辨率約30μm(AES約10nm)

 

服務(wù)項目：

各種固體表面的元素成分

化學(xué)價態(tài)

分子結(jié)構(gòu)分析

深度剖析
       表面異物分析

商家資料

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服務(wù)熱線

4001027270

功能和特性

價格和優(yōu)惠

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