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FIB聚焦離子束切割線路修改切點(diǎn)觀測
應(yīng)用范圍
1.定點(diǎn)切割
2.穿透式電子顯微鏡試片
3.IC線路修補(bǔ)和布局驗(yàn)證
4.制程上異常觀察分析
5.晶相特性觀察分析
6.故障位置定位用被動(dòng)電壓反差分析 |
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NI?專業(yè)?技術(shù)?概覽
NI?專業(yè)?技術(shù)?概覽人們?對(duì)?LTE Advanced Pro、?5G?和?802.11 ax?等?新?無線?標(biāo)準(zhǔn)?的?需求,?帶給?當(dāng)今?的?工 |
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